天眼查顯示,華進(jìn)半導(dǎo)體封裝先導(dǎo)技術(shù)研發(fā)中心有限公司近日取得一項(xiàng)名為“一種單片集成的高精度高速雙光斑同步位置探測(cè)器結(jié)構(gòu)”的專利,授權(quán)公告號(hào)為CN114111577B,授權(quán)公告日為2024年7月2日,申請(qǐng)日為2021年11月24日。
本發(fā)明公開了一種雙光斑同步位置探測(cè)器,包括:第一位置敏感探測(cè)器;第二位置敏感探測(cè)器;以及隔離區(qū),其中所述第一位置敏感探測(cè)器和所述第二位置敏感探測(cè)器的光敏區(qū)通過(guò)所述隔離區(qū)分開。