天眼查顯示，華虹半導(dǎo)體（無錫）有限公司“一種分立器件BVDSS測試方法”專利公布，申請公布日為2025年2月28日，申請公布號為CN119535127A。

本發(fā)明提供一種分立器件BVDSS測試方法，包括將n塊浮動源形成的疊加電源連接到分立器件的源極和漏極之間并進(jìn)行初始化；對前n?1塊浮動源進(jìn)行FV操作；對第n塊浮動源進(jìn)行FI操作；等待一對應(yīng)的穩(wěn)定時(shí)間后，對各浮動源進(jìn)行MV操作記作MVx；對各所述浮動源進(jìn)行MI操作記作MIx；關(guān)閉所有浮動源；將各浮動源對應(yīng)量測的電壓相加之和作為初始測試值V0輸出；判斷MVx、MIx是否存在異常，若不存在異常，則最終測試值V為初始測試值V0；若存在異常，則根據(jù)約定的規(guī)則重新對初始測試值賦值，并且將異常狀態(tài)下的MVx和MIx輸出到額外的一個(gè)文檔內(nèi)；輸出最終測試值，并分bin。本發(fā)明能夠提高分立器件BVDSS測試質(zhì)量，避免漏殺及量產(chǎn)測試質(zhì)量事故的發(fā)生，并且實(shí)現(xiàn)異常的快速定位分析。