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東方晶源“電子束掃描成像中的干擾信號(hào)補(bǔ)償方法、裝置及電子設(shè)備”專利獲授權(quán)

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天眼查顯示,東方晶源微電子科技(北京)股份有限公司近日取得一項(xiàng)名為“電子束掃描成像中的干擾信號(hào)補(bǔ)償方法、裝置及電子設(shè)備”的專利,授權(quán)公告號(hào)為CN117011405B,授權(quán)公告日為2025年3月14日,申請(qǐng)日為2023年6月28日。

本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N電子束掃描成像中的干擾信號(hào)補(bǔ)償方法、裝置及電子設(shè)備,包括:獲取基準(zhǔn)方向上的掃描圖像;根據(jù)所述掃描圖像,確定所述掃描圖像中的干擾信號(hào)的基準(zhǔn)信號(hào)模型;基于所述干擾信號(hào)的基準(zhǔn)信號(hào)模型,確定目標(biāo)補(bǔ)償模型;基于所述目標(biāo)補(bǔ)償模型,對(duì)掃描方向上的干擾信號(hào)進(jìn)行補(bǔ)償。本申請(qǐng)的一種電子束掃描成像中的干擾信號(hào)補(bǔ)償方法、裝置及電子設(shè)備解決了電子束掃描成像過程中由于振動(dòng)或噪聲等信號(hào)干擾導(dǎo)致圖像質(zhì)量下降的問題,提升了圖像分辨率,降低了圖像定位偏差。

責(zé)編: 愛集微
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