天眼查顯示，廣東利揚(yáng)芯片測(cè)試股份有限公司近日取得一項(xiàng)名為“一種用于芯片老化測(cè)試的數(shù)據(jù)采集裝置”的專利，授權(quán)公告號(hào)為CN222259505U，授權(quán)公告日為2024年12月27日，申請(qǐng)日為2024年3月5日。

本公開揭示了一種用于芯片老化測(cè)試的數(shù)據(jù)采集裝置，包括第一數(shù)據(jù)采集單元、第二數(shù)據(jù)采集單元和第三數(shù)據(jù)采集單元，其中，所述第一數(shù)據(jù)采集單元的輸入端與芯片老化測(cè)試板的輸出端電連接，所述第一數(shù)據(jù)采集單元的輸出端與第二數(shù)據(jù)采集單元的輸入端電連接；所述第二數(shù)據(jù)采集單元的輸出端與第三數(shù)據(jù)采集單元的輸入端電連接；所述采集裝置還包括數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元，所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元的輸入端與所述第三數(shù)據(jù)采集單元的輸出端電連接。本公開通過具體多級(jí)電路能夠準(zhǔn)確獲得老化測(cè)試后的芯片的輸出電壓信號(hào)，從而能夠準(zhǔn)確檢測(cè)出老化測(cè)試后的芯片是否存在異常。