據(jù)天眼查顯示，上海精測(cè)半導(dǎo)體技術(shù)有限公司“理論光譜數(shù)據(jù)優(yōu)化方法及測(cè)量方法”專利公布，申請(qǐng)公布日為2024年12月31日，申請(qǐng)公布號(hào)為CN119227380A。

本公開提供了一種理論光譜數(shù)據(jù)優(yōu)化方法及測(cè)量方法，其中理論光譜數(shù)據(jù)優(yōu)化方法能夠在獲取收斂級(jí)次對(duì)集合的情況下，通過獲取每個(gè)收斂級(jí)次對(duì)對(duì)應(yīng)的靈敏度，并根據(jù)靈敏度對(duì)于收斂級(jí)次對(duì)集合進(jìn)行篩選以獲得優(yōu)化級(jí)次對(duì)集合，根據(jù)優(yōu)化級(jí)次對(duì)集合獲取對(duì)應(yīng)的理論光譜數(shù)據(jù)。本公開通過靈敏度表征了級(jí)次對(duì)的傅里葉系數(shù)的改變量對(duì)于理論光譜數(shù)據(jù)的改變量的影響，靈敏度的數(shù)值越小，說明對(duì)應(yīng)級(jí)次對(duì)的傅里葉系數(shù)的改變量對(duì)于理論光譜數(shù)據(jù)的影響越小，對(duì)應(yīng)級(jí)次對(duì)在理論光譜數(shù)據(jù)的計(jì)算過程中越不可或缺。由于優(yōu)化級(jí)次對(duì)集合中的級(jí)次對(duì)個(gè)數(shù)相較收斂級(jí)次對(duì)集合中的級(jí)次對(duì)個(gè)數(shù)更少，利用優(yōu)化級(jí)次對(duì)集合能夠提高理論光譜數(shù)據(jù)的計(jì)算效率。