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銳石創(chuàng)芯“射頻芯片測試系統(tǒng)”專利獲授權(quán)

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天眼查顯示,銳石創(chuàng)芯(深圳)科技股份有限公司“射頻芯片測試系統(tǒng)”專利獲授權(quán),授權(quán)公告日為10月20日,授權(quán)公告號(hào)為CN219871656U。

圖片來源:天眼查

專利摘要顯示,本實(shí)用新型公開了一種射頻芯片測試系統(tǒng),其包括測試信號(hào)輸入端、第一測試模塊、測試板、控制模塊、第二測試模塊和測試信號(hào)輸出端,通過控制模塊控制第一測試模塊和第二測試模塊切換到對(duì)應(yīng)的前級(jí)測試通道和后級(jí)測試通道,利用第一測試模塊中的多條前級(jí)測試通道和第二測試模塊中的多條后級(jí)測試通道替代人工手動(dòng)更換射頻線選擇測試端的操作,提高了測試效率及測試穩(wěn)定性。

據(jù)悉,該專利提供了一種射頻芯片測試系統(tǒng),旨在解決現(xiàn)有測試鏈路測試效率較低及測試穩(wěn)定性較差的問題。(校對(duì)/劉沁宇)

責(zé)編: 劉沁宇
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