作為中國電子設(shè)計領(lǐng)域頗具影響力的年度盛會，第十屆電子設(shè)計創(chuàng)新大會（EDICON China 2025）將于4月23日-24日在北京國家會議中心盛大啟幕。這場以射頻/微波/無線和高速/高頻設(shè)計領(lǐng)域為核心的活動盛宴，匯聚國內(nèi)外頂尖專家與企業(yè)領(lǐng)袖，覆蓋的多產(chǎn)業(yè)鏈議題。EDICON China特設(shè)會議和展覽兩部分，是洞悉前沿技術(shù)與未來趨勢的絕佳窗口。

愛德萬測試主題演講

在射頻芯片測試日趨復(fù)雜化的今天，射頻芯片的發(fā)展趨勢正向著更高頻率，更寬帶寬，更高集成度以及更多端口的方向快速邁進，尤其是未來20GHz 以下頻段的大帶寬應(yīng)用場景將顯著增加。這對ATE量產(chǎn)測試提出了前所未有的挑戰(zhàn)。

在本次大會上，愛德萬測試中國的業(yè)務(wù)發(fā)展高級經(jīng)理孫佳焱將發(fā)表主題為“面向新一代射頻芯片技術(shù)趨勢的ATE量產(chǎn)測試方案“的主題演講，他將全面解析愛德萬測試最新推出的基于V93000 EXA Scale平臺的Wave Scale RF20ex新射頻測試板卡, 展示其多維度技術(shù)突破。WSRF20ex 支持高達(dá)20GHz 頻率和2GHz 帶寬，可有效應(yīng)對未來射頻芯片測試領(lǐng)域的嚴(yán)苛技術(shù)需求，助力產(chǎn)業(yè)更好地迎接高速發(fā)展的射頻時代。