天眼查顯示，兆易創(chuàng)新科技集團股份有限公司今日取得一項名為“延時測試電路和探針結構”的專利，授權公告號為CN222167160U，授權公告日為2024年12月13日，申請日為2024年3月5日。

本公開提供了一種延時測試電路和探針結構，涉及半導體技術領域。其中，延時測試電路包括：并聯(lián)的兩個測試支路，并聯(lián)的兩個測試支路中的一個包括第一輸入端和第一輸出端，并聯(lián)的兩個測試支路中的另一個包括第二輸入端和第二輸出端，第一輸入端和第二輸入端用于接收同一起振信號，第一輸出端用于輸出第一振蕩信號，第二輸出端用于輸出第二振蕩信號；相位檢測器，相位檢測器的輸入端分別與第一輸出端以及第二輸出端連接，用于接收第一振蕩信號和第二振蕩信號，相位檢測器的輸出端用于輸出第一振蕩信號和第二振蕩信號之間的相位差。通過本公開的技術方案，能夠檢測兩個測試支路輸出的交流信號的相位和頻率的差異。