天眼查顯示，上海泰矽微電子有限公司“一種芯片測試方法、裝置、系統(tǒng)和介質(zhì)”專利公布，申請公布日為2024年11月29日，申請公布號為CN119044739A

本發(fā)明實施例提供的一種芯片測試方法、裝置、系統(tǒng)和介質(zhì)，具有以下有益效果：通過將指定通用輸入輸出端口配置為輸入模式，并使能中斷模式；配置指定通用輸入輸出端口的接收數(shù)據(jù)長度為預設長度；同步指定通用輸入輸出端口的數(shù)據(jù)采集時鐘與上位機的時鐘一致；設定數(shù)據(jù)采樣點；解析上位機發(fā)送的指令信息，所述指令信息用于配置待測芯片的功能；通過通用串口打印接口，向上位機發(fā)送與待測芯片的功能相關(guān)的測試數(shù)據(jù)，以使上位機對所述測試數(shù)據(jù)進行校驗。本發(fā)明實現(xiàn)了待測芯片與上位機的交互，從而實現(xiàn)自動化測試，減少了對測試人員的依賴，有效提高了測試效率。