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數(shù)之聯(lián)“一種工業(yè)缺陷檢測(cè)方法、系統(tǒng)、設(shè)備、介質(zhì)及程序產(chǎn)品”專利公布

來源:愛集微 #數(shù)之聯(lián)#
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天眼查顯示, 成都數(shù)之聯(lián)科技股份有限公司“一種工業(yè)缺陷檢測(cè)方法、系統(tǒng)、設(shè)備、介質(zhì)及程序產(chǎn)品”專利公布,申請(qǐng)公布日為2025年3月14日,申請(qǐng)公布號(hào)為CN119624920A。

本發(fā)明提供一種工業(yè)缺陷檢測(cè)方法、系統(tǒng)、設(shè)備、介質(zhì)及程序產(chǎn)品,涉及工業(yè)缺陷檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,所述方法包括流程:對(duì)原始圖像進(jìn)行圖像放大處理、圖像分割處理、圖像增強(qiáng)處理以及邊緣輪廓提取處理,以得到區(qū)域輪廓圖像;對(duì)區(qū)域輪廓圖像進(jìn)行輪廓迭代增強(qiáng)處理,以得到輪廓增強(qiáng)圖像;對(duì)輪廓增強(qiáng)圖像進(jìn)行圖像拼接處理以及圖像縮小處理,以得到原始增強(qiáng)圖像;將原始圖像以及原始增強(qiáng)圖像關(guān)聯(lián)輸入缺陷檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行缺陷檢測(cè),以得到缺陷定位結(jié)果以及缺陷補(bǔ)充定位結(jié)果;對(duì)缺陷定位結(jié)果以及缺陷補(bǔ)充定位結(jié)果進(jìn)行綜合判定,以得到缺陷檢測(cè)結(jié)果。本發(fā)明通過對(duì)原始圖像和原始增強(qiáng)圖像同時(shí)進(jìn)行缺陷檢測(cè),能夠有效防止輕微缺陷容易出現(xiàn)漏檢的情況。

責(zé)編: 愛集微
來源:愛集微 #數(shù)之聯(lián)#
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