天眼查顯示，龍芯中科技術(shù)股份有限公司“一種針對芯片的存儲單元的檢測方法和裝置”專利公布，申請公布日為2025年2月14日，申請公布號為CN119446245A。

本發(fā)明實施例提供了一種針對芯片的存儲單元的檢測方法和裝置，通過生成掃描模式進(jìn)入指令，并調(diào)用聯(lián)合測試行為組織接口基于掃描模式進(jìn)入指令控制芯片進(jìn)入掃描模式；在掃描模式下，通過寄存器生成針對儲存單元的掃描鏈；掃描鏈包括針對寄存器生成針對原生存儲單元的第一存儲內(nèi)建自測試掃描鏈，和，針對定制存儲單元的第二存儲內(nèi)建自測試掃描鏈；當(dāng)判定存儲單元存在故障時，通過第一存儲內(nèi)建自測試掃描鏈和第二存儲內(nèi)建自測試掃描鏈獲取針對存儲單元的掃描數(shù)據(jù)，并通過重置計數(shù)器獲取第一計數(shù)值；基于掃描數(shù)據(jù)和第一計數(shù)值檢測存儲單元，實現(xiàn)了能夠為檢測存儲單元提供多種診斷模式，從而提升了針對片上存儲單元的檢測效率。