天眼查顯示，上海安路信息科技股份有限公司“芯片的同步開關(guān)噪聲測(cè)試方法裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)”專利公布，申請(qǐng)公布日為2024年12月31日，申請(qǐng)公布號(hào)為CN119224534A。

本發(fā)明公開了一種芯片的同步開關(guān)噪聲測(cè)試方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)，其中方法包括：確定待測(cè)芯片的被測(cè)I O和干擾源I O；在最大驅(qū)動(dòng)電流下，對(duì)被測(cè)I O進(jìn)行同步開關(guān)噪聲測(cè)試，獲取被測(cè)I O在干擾源I O進(jìn)行開關(guān)切換時(shí)的測(cè)試結(jié)果；基于測(cè)試結(jié)果和選定的驅(qū)動(dòng)電流，確定選定的驅(qū)動(dòng)電流對(duì)應(yīng)的同步開關(guān)噪聲，同步開關(guān)噪聲包括低電平同步開關(guān)噪聲和高電平同步開關(guān)噪聲。本發(fā)明根據(jù)最大驅(qū)動(dòng)電流與選定的驅(qū)動(dòng)電流之間的關(guān)系，計(jì)算得到選定驅(qū)動(dòng)電流對(duì)應(yīng)的同步噪聲測(cè)試結(jié)果，從而能夠在僅測(cè)試得到最大驅(qū)動(dòng)電流的情況下，快速、準(zhǔn)確確定其他驅(qū)動(dòng)電流下的芯片同步噪聲測(cè)試結(jié)果，無(wú)需逐一在每一驅(qū)動(dòng)電流條件下進(jìn)行測(cè)試，進(jìn)而能夠有效提高芯片同步噪聲的測(cè)試效率。