天眼查顯示，深圳市航順芯片技術(shù)研發(fā)有限公司近日取得一項名為“半導體材料生長速率的測試方法基于ATE設(shè)備的MCU內(nèi)部時鐘校準方法、系統(tǒng)及芯片”的專利，授權(quán)公告號為CN117539323B，授權(quán)公告日為2024年10月18日，申請日為2023年11月14日。

本發(fā)明提供的基于ATE設(shè)備的MCU內(nèi)部時鐘校準方法、系統(tǒng)及芯片，具體涉及半導體技術(shù)領(lǐng)域，方案包括：啟動MCU的內(nèi)部時鐘，并獲取內(nèi)部時鐘的目標校準頻率；基于目標校準頻率，確定ATE時鐘的頻率，ATE時鐘的頻率為參考頻率；基于參考頻率及目標校準頻率，獲得典型值；利用內(nèi)部時鐘捕獲ATE時鐘的實時頻率，初始化內(nèi)部時鐘的寄存器的各個位的值，并基于實時頻率和典型值，構(gòu)建二分操作規(guī)則，從高位開始向低位逐位輪循調(diào)整相應位的值，獲得校準后的內(nèi)部時鐘。該方案能夠提高校準精度，降低測試成本和芯片制造成本，并且對ATE設(shè)備的性能要求較低，能夠提高ATE設(shè)備的適用范圍。