本源量子“量子芯片的測試方法、裝置及量子計算機”專利公布

作者：愛集微 2024-09-23

來源：愛集微 #本源量子#

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天眼查顯示，本源量子計算科技（合肥）股份有限公司“量子芯片的測試方法、裝置及量子計算機”專利公布，申請公布日為2024年9月6日，申請公布號為CN118604562A。

本發(fā)明提供了一種量子芯片的測試方法、裝置及量子計算機，所述測試方法包括：設置一驅動信號的功率為預設值，對一待測量子比特執(zhí)行能譜實驗，獲取實驗結果，所述實驗結果包括：與所述待測量子比特耦合的讀取腔的S21相位隨所述驅動信號的頻率值的第一變化關系；獲取所述第一變化關系中的峰值點及對應的所述驅動信號的頻率值；獲取所有所述峰值點處所述待測量子比特被激發(fā)的概率；當僅有一個所述峰值點處所述待測量子比特被激發(fā)的概率達到設定閾值時，獲取達到所述設定閾值的所述峰值點處對應的所述驅動信號的頻率值作為所述待測量子比特的頻率參數。本發(fā)明提高了測試效率及測試精度，且后續(xù)無需執(zhí)行Ramsey實驗進行驗證，簡化了流程。