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積塔半導(dǎo)體“用于制造半導(dǎo)體裝置的方法以及半導(dǎo)體裝置”專利公布

來源:愛集微 #積塔半導(dǎo)體# #積塔半導(dǎo)#
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天眼查顯示,上海積塔半導(dǎo)體有限公司“用于制造半導(dǎo)體裝置的方法以及半導(dǎo)體裝置”專利公布,申請公布日為2024年7月19日,申請公布號為CN118366850A。

本公開涉及用于制造半導(dǎo)體裝置的方法以及半導(dǎo)體裝置。一種用于制造半導(dǎo)體裝置的方法,該方法包括:提供半導(dǎo)體基底,在半導(dǎo)體基底中形成有溝槽;用飛秒激光束照射半導(dǎo)體基底的與溝槽的第一部分鄰接的第二部分,使得半導(dǎo)體基底的第二部分發(fā)生非熱熔化;以及在完成飛秒激光束的照射之后,對半導(dǎo)體基底進(jìn)行熱氧化處理,使得半導(dǎo)體基底的第二部分形成氧化層。

責(zé)編: 趙碧瑩
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