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聯(lián)訊儀器“一種晶圓測試夾具”專利獲授權(quán)

來源:愛集微 #聯(lián)訊儀器#
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天眼查顯示,蘇州聯(lián)訊儀器股份有限公司近日取得一項名為“一種晶圓測試夾具”的專利,授權(quán)公告號為CN221405765U,授權(quán)公告日為2024年7月23日,申請日為2023年10月31日。

本實用新型提供了一種晶圓測試夾具,涉及晶圓測試技術(shù)領(lǐng)域。本實用新型中結(jié)構(gòu)板限定有安裝孔,PCB板設(shè)置在結(jié)構(gòu)板的下方,且與結(jié)構(gòu)板連接,上保壓蓋設(shè)置在安裝孔內(nèi),且位于PCB板的上方,上保壓蓋與結(jié)構(gòu)板和PCB板均相連,熱沉結(jié)構(gòu)設(shè)置在PCB板的下方,且與PCB板和上保壓蓋連接,熱沉結(jié)構(gòu)的頂部設(shè)有用于安裝晶圓的第一安裝腔,探針板位于第一安裝腔內(nèi),且與PCB板連接,探針板具有多個探針,多個探針與晶圓接觸。由于晶圓測試夾具結(jié)構(gòu)較多且比較復(fù)雜,所以在結(jié)構(gòu)板上設(shè)置間隔開布置的多個第一減重槽,相鄰兩個第一減重槽之間設(shè)有第一加強(qiáng)筋,與直接開設(shè)一個大的減重槽的技術(shù)方案相比,即可以減輕晶圓測試夾具的重量,又可以確保晶圓測試夾具的強(qiáng)度。


責(zé)編: 趙碧瑩
來源:愛集微 #聯(lián)訊儀器#
THE END

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