4月15日-17日，慕尼黑上海電子展在上海新國際博覽中心盛大開幕，勝科納米亮相展會（N5館663展位）。作為國內(nèi)領(lǐng)先的第三方半導(dǎo)體檢測分析企業(yè)，勝科納米已經(jīng)連續(xù)多年亮相該展會。
展位現(xiàn)場，來自全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈的技術(shù)專家與勝科納米團(tuán)隊就先進(jìn)制程芯片的檢測分析展開深度交流，依托勝科納米成熟的檢測技術(shù)方案，強大的硬件實力以及優(yōu)秀的服務(wù)態(tài)度，展臺吸引了眾多參展商和觀眾的目光，其中，勝科納米自主研發(fā)的納米探針技術(shù)，獲得了業(yè)內(nèi)的重點關(guān)注與積極反饋。
展會現(xiàn)場
4月16日，勝科納米技術(shù)專家在2025第三代半導(dǎo)體技術(shù)與產(chǎn)業(yè)鏈創(chuàng)新發(fā)展論壇上，發(fā)表了題為《納米探針在芯片失效分析中的實戰(zhàn)應(yīng)用》的報告。報告聚焦于半導(dǎo)體芯片失效分析的現(xiàn)狀與挑戰(zhàn)，并通過案例形象地展示了納米探針技術(shù)在該領(lǐng)域的獨特價值和應(yīng)用前景。
勝科納米技術(shù)專家論壇分享
勝科納米技術(shù)專家報告："隨著芯片制程精度的不斷躍遷，傳統(tǒng)分析方法如光發(fā)射顯微鏡（PEM）和光束誘導(dǎo)電阻變化（OBIRCH）已面臨顯著局限。納米探針技術(shù)作為高精度故障診斷系統(tǒng)，能夠提供探測單個晶體管和互連結(jié)構(gòu)的能力，實現(xiàn)納米級電性故障的精確定位與表征。目前，該技術(shù)可以輕松應(yīng)對復(fù)雜多層封裝結(jié)構(gòu)的失效點定位、先進(jìn)制程芯片的微小缺陷檢測以及高性能計算芯片的電路布局優(yōu)化等多方面，為芯片良率提升提供了關(guān)鍵有效的技術(shù)支撐。"
論壇現(xiàn)場
納米探針技術(shù)的獨特且先進(jìn)的分析優(yōu)勢，為產(chǎn)業(yè)客戶帶來了切實可行的芯片失效分析及良率改善解決方案，充分展現(xiàn)了勝科納米在分析檢測技術(shù)領(lǐng)域的領(lǐng)先地位和創(chuàng)新能力，得到了與會者的點贊。
創(chuàng)新求變，篤行致遠(yuǎn)。面對半導(dǎo)體技術(shù)快速迭代的行業(yè)變革，勝科納米將持續(xù)深耕芯片檢測分析領(lǐng)域核心技術(shù)攻堅，與產(chǎn)業(yè)伙伴協(xié)同創(chuàng)新，共筑半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)生態(tài)。誠邀業(yè)界同仁蒞臨勝科納米展位（N5館663展位），共同探討交流先進(jìn)制程芯片失效分析解決方案。
