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力源信息:子公司MCU產(chǎn)品通過(guò)AEC-Q100車(chē)規(guī)測(cè)試

來(lái)源:愛(ài)集微 #力源信息#
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11月19日,力源信息發(fā)布公告稱(chēng),公司全資子公司武漢芯源半導(dǎo)體有限公司(以下簡(jiǎn)稱(chēng)“芯源半導(dǎo)體”)基于Cortex?-M0+內(nèi)核的CW32A030C8T7產(chǎn)品于近日通過(guò)了AEC-Q100車(chē)規(guī)測(cè)試,此產(chǎn)品是芯源半導(dǎo)體首款車(chē)規(guī)級(jí)MCU產(chǎn)品。

該產(chǎn)品(CW32A030C8T7)已完成AEC-Q100-Rev-H(September11,2014)規(guī)定的19項(xiàng)測(cè)試。測(cè)試包含:預(yù)處理試驗(yàn)(PC)、偏壓高加速應(yīng)力試驗(yàn)(HAST)、無(wú)偏壓高加速應(yīng)力試驗(yàn)(UHST)、溫度循環(huán)試驗(yàn)(TC)、高溫貯存壽命試驗(yàn)(HTSL)、高溫工作壽命試驗(yàn)(HTOL)、早期失效率試驗(yàn)(ELFR)、非易失性存儲(chǔ)耐久試驗(yàn)(數(shù)據(jù)保持)(EDR-HTDR)、非易失性存儲(chǔ)耐久試驗(yàn)(數(shù)據(jù)保持)(EDR-LTDR)、鍵合金球剪切試驗(yàn)(WBS)、鍵合金球拉力試驗(yàn)(WBP)、可焊性試驗(yàn)(SD)、物理尺寸試驗(yàn)(PD)、靜電放電人體模型試驗(yàn)(HBM)、靜電放電充電裝置模型試驗(yàn)(CDM)、高溫閂鎖試驗(yàn)(LU-HT)、電磁兼容試驗(yàn)(EMC)、耐焊接熱試驗(yàn)(LF-RSH)、錫須觀察試驗(yàn)(LF-TW)。

力源信息表示,汽車(chē)市場(chǎng)是MCU應(yīng)用的重要市場(chǎng)之一,上述MCU產(chǎn)品通過(guò)AEC-Q100車(chē)規(guī)測(cè)試,是公司自研芯片產(chǎn)品進(jìn)入汽車(chē)領(lǐng)域的重要通行證之一,同時(shí)提升了公司自研產(chǎn)品的可信度及質(zhì)量保證,增強(qiáng)下游客戶(hù)對(duì)公司的信任和認(rèn)可,是公司實(shí)現(xiàn)從代理分銷(xiāo)轉(zhuǎn)型為芯片設(shè)計(jì)與代理分銷(xiāo)并舉的雙核心戰(zhàn)略向前邁進(jìn)的重要一步,提高了公司及芯源半導(dǎo)體的核心競(jìng)爭(zhēng)力,對(duì)公司及芯源半導(dǎo)體未來(lái)發(fā)展產(chǎn)生積極影響。

責(zé)編: 黃仁貴
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THE END

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