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中科飛測(cè)“檢測(cè)設(shè)備和檢測(cè)方法”專利獲授權(quán)

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天眼查顯示,深圳中科飛測(cè)科技股份有限公司近日取得一項(xiàng)名為“檢測(cè)設(shè)備和檢測(cè)方法”的專利,授權(quán)公告號(hào)為CN114234835B,授權(quán)公告日為2025年3月14日,申請(qǐng)日為2020年9月9日。

本發(fā)明實(shí)施例提供一種檢測(cè)設(shè)備和檢測(cè)方法,用于進(jìn)行掃描檢測(cè),所述檢測(cè)設(shè)備包括:照明光源,用于提供照明光;物鏡,用于使所述照明光投射至檢測(cè)面,還用于對(duì)檢測(cè)面成像,所述物鏡的光軸在所述檢測(cè)面的投影為檢測(cè)點(diǎn);聚焦裝置,用于在所述檢測(cè)面上確定測(cè)量點(diǎn),所述測(cè)量點(diǎn)相對(duì)于所述檢測(cè)點(diǎn)沿掃描方向具有一偏移量;還用于根據(jù)測(cè)量點(diǎn)對(duì)應(yīng)的檢測(cè)面位置,調(diào)整物鏡進(jìn)行聚焦;探測(cè)裝置,用于探測(cè)物鏡收集的所述照明光。本發(fā)明實(shí)施例能優(yōu)化聚焦性能,提高成像質(zhì)量。

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