天眼查顯示，上海感圖網(wǎng)絡(luò)科技有限公司“獲取板邊光學(xué)點(diǎn)缺陷檢測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)”專利公布，申請公布日為2025年3月14日，申請公布號為CN119624903A。

本申請公開獲取板邊光學(xué)點(diǎn)缺陷檢測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)，涉及圖像檢測領(lǐng)域。通過線掃相機(jī)掃描PNL物料板的全景圖，從全景圖中截取板邊周圍的光學(xué)點(diǎn)Mark圖像；將Mark圖像輸入至缺陷檢測模型，根據(jù)Mark點(diǎn)類型進(jìn)行缺陷檢測；確定Mark點(diǎn)的缺陷類型，根據(jù)缺陷類型從標(biāo)簽庫中匹配缺陷標(biāo)簽，并輸出缺陷識別結(jié)果。截取Mark圖像輸入至缺陷檢測模型，可支持多輸入小圖并行檢測，避免全景圖識別消耗過多算力和識別進(jìn)度不高的問題。對于切割的各個Mark圖像，可根據(jù)訓(xùn)練號的模型進(jìn)行更高精度的識別，逐個分子Mark點(diǎn)的缺陷類型并打標(biāo)簽后輸出，實(shí)現(xiàn)定向檢測輸出，提高檢測的良品率。