在存儲(chǔ)技術(shù)飛速迭代的浪潮中，固態(tài)硬盤(pán)（SSD）的性能與可靠性已成為行業(yè)競(jìng)爭(zhēng)的核心壁壘。面對(duì)海量測(cè)試場(chǎng)景下的效率瓶頸與潛在缺陷檢測(cè)難題，置富科技以創(chuàng)新驅(qū)動(dòng)市場(chǎng)，應(yīng)運(yùn)而生推出PCIe Gen5/Gen4/Gen3 SSD寬溫智能測(cè)試設(shè)備、SATA Gen3寬溫智能測(cè)試設(shè)備和SATA Gen3+PCIe Gen4 SSD寬溫智能測(cè)試設(shè)備，以智能化、精準(zhǔn)化、場(chǎng)景化的解決方案，為SSD成品測(cè)試領(lǐng)域注入新動(dòng)能。
直擊行業(yè)痛點(diǎn)：效率與精準(zhǔn)的雙重突破
傳統(tǒng)SSD測(cè)試普遍面臨測(cè)試用例單一、測(cè)試方案覆蓋不全，極端環(huán)境模擬不足、多任務(wù)并行能力有限等挑戰(zhàn)，測(cè)試結(jié)果需要人工介入判斷，出錯(cuò)概率大，無(wú)法有效保障產(chǎn)品一致性。置富科技依托20余年的存儲(chǔ)行業(yè)經(jīng)驗(yàn)和技術(shù)積累，基于市場(chǎng)痛點(diǎn)和產(chǎn)業(yè)需求研發(fā)SSD寬溫智能測(cè)試系列設(shè)備，通過(guò)近30項(xiàng)核心測(cè)試指令集成與智能化溫控聯(lián)動(dòng)，實(shí)現(xiàn)從功能驗(yàn)證到極限環(huán)境模擬的全維度覆蓋，充分驗(yàn)證SSD的可靠性和穩(wěn)定性。
PCIe Gen 4 SSD智能測(cè)試設(shè)備不僅支持：
PCT斷電測(cè)試
BIT老化測(cè)試
IOPS速度測(cè)試
MDT協(xié)議測(cè)試
Protocol功能測(cè)試
JEDEC TEST耐久性測(cè)試
......
還能通過(guò)設(shè)置電壓拉偏（±10%，精度0.05V）模擬不同的電壓條件，來(lái)測(cè)試SSD在不同電壓環(huán)境下的表現(xiàn)，確保SSD在復(fù)雜工況下的信號(hào)完整性和電源穩(wěn)定性。測(cè)試完成后，一鍵生成可視化報(bào)告與日志，協(xié)助產(chǎn)品研發(fā)定位故障位置和原因分析，直觀評(píng)估產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性使用狀態(tài)。
模塊架構(gòu)設(shè)計(jì)：賦能企業(yè)級(jí)規(guī)?；瘻y(cè)試
針對(duì)企業(yè)級(jí)SSD高密度測(cè)試需求，設(shè)備采用模塊化架構(gòu)設(shè)計(jì)，支持128~256盤(pán)位并行測(cè)試（可定制擴(kuò)展），全面覆蓋企業(yè)級(jí)、工業(yè)級(jí)和消費(fèi)級(jí)產(chǎn)品驗(yàn)證。通過(guò)-60℃至150℃寬溫域精準(zhǔn)控制，可模擬極寒、高溫、溫循等真實(shí)應(yīng)用場(chǎng)景，精準(zhǔn)評(píng)估SSD在數(shù)據(jù)中心、工業(yè)控制以及消費(fèi)電子等領(lǐng)域的長(zhǎng)期可靠性，確保產(chǎn)品生命周期內(nèi)的耐用表現(xiàn)。
智能操作系統(tǒng)：降本增效重構(gòu)測(cè)試范式
置富科技突破傳統(tǒng)測(cè)試設(shè)備的操作桎梏，通過(guò)開(kāi)放式工單配置平臺(tái)與Windows/Linux雙系統(tǒng)兼容設(shè)計(jì)，用戶可自由組合測(cè)試條件，靈活定制測(cè)試流程。結(jié)合網(wǎng)絡(luò)化遠(yuǎn)程控制與自動(dòng)化數(shù)據(jù)傳輸，實(shí)現(xiàn)“一鍵啟動(dòng)、全程無(wú)人值守”的智能操作模式，可大幅提高測(cè)試效率，減少人工成本，為存儲(chǔ)制造商及研發(fā)機(jī)構(gòu)提供高性價(jià)比的測(cè)試選擇。
全場(chǎng)景應(yīng)用：驅(qū)動(dòng)存儲(chǔ)產(chǎn)業(yè)技術(shù)升級(jí)
目前，PCIe Gen4等 SSD寬溫智能測(cè)試設(shè)備已通過(guò)多家頭部存儲(chǔ)廠商的嚴(yán)格驗(yàn)證，并在消費(fèi)電子、云計(jì)算、數(shù)據(jù)中心、工業(yè)自動(dòng)化等領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)規(guī)?；瘻y(cè)試，得到市場(chǎng)客戶廣泛認(rèn)可。同時(shí)，基于市場(chǎng)需求發(fā)展趨勢(shì)，置富科技也已完成PCIe Gen5/PCIe Gen3 SSD寬溫智能測(cè)試設(shè)備、SATA Gen3寬溫智能測(cè)試設(shè)備和SATA Gen3+PCIe Gen4 SSD寬溫智能測(cè)試設(shè)備的產(chǎn)品路線布局，形成包含SATA Gen3到PCIe Gen5全兼容測(cè)試平臺(tái)的產(chǎn)品矩陣。
置富科技SSD寬溫智能測(cè)試系列設(shè)備，不僅滿足了當(dāng)前市場(chǎng)對(duì)高性能SSD測(cè)試的需求，更為存儲(chǔ)行業(yè)的技術(shù)創(chuàng)新注入了新動(dòng)力。未來(lái)，置富科技將持續(xù)深化智能測(cè)試技術(shù)創(chuàng)新，通過(guò)構(gòu)建覆蓋全協(xié)議、全場(chǎng)景、全生命周期的存儲(chǔ)設(shè)備驗(yàn)證體系，助力存儲(chǔ)產(chǎn)業(yè)實(shí)現(xiàn)從研發(fā)驗(yàn)證到量產(chǎn)檢測(cè)的全流程質(zhì)量升級(jí)。
