天眼查顯示，合肥康芯威存儲(chǔ)技術(shù)有限公司近日取得一項(xiàng)名為“一種存儲(chǔ)芯片的測(cè)試方法及測(cè)試裝置”的專利，授權(quán)公告號(hào)為CN118471309B，授權(quán)公告日為2024年9月6日，申請(qǐng)日為2024年7月3日。

本發(fā)明提供一種存儲(chǔ)芯片的測(cè)試方法及測(cè)試裝置，屬于存儲(chǔ)技術(shù)領(lǐng)域。所述存儲(chǔ)芯片的測(cè)試方法包括以下步驟：對(duì)主機(jī)上電并開機(jī)，并向存儲(chǔ)芯片發(fā)送初始化指令；存儲(chǔ)芯片接收到初始化指令后，第一計(jì)時(shí)器開始計(jì)時(shí)，并對(duì)存儲(chǔ)芯片進(jìn)行初始化；存儲(chǔ)芯片完成初始化后；當(dāng)?shù)谝挥?jì)時(shí)器的時(shí)間到達(dá)預(yù)設(shè)時(shí)間，向主機(jī)發(fā)送反饋信息；若主機(jī)接收到反饋信息的時(shí)間未超過上電時(shí)間，則主機(jī)正常開機(jī)，之后對(duì)主機(jī)下電；存儲(chǔ)芯片依據(jù)主機(jī)的下電次數(shù)更新預(yù)設(shè)時(shí)間；重新對(duì)主機(jī)上電，直至主機(jī)接收到反饋信息的時(shí)間超過上電時(shí)間，并獲取上個(gè)循環(huán)中的預(yù)設(shè)時(shí)間作為存儲(chǔ)芯片的最大上電時(shí)間。通過本發(fā)明提供的存儲(chǔ)芯片的測(cè)試方法及測(cè)試裝置，可自動(dòng)獲取存儲(chǔ)芯片的最大上電時(shí)間。