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時創(chuàng)意“上下料裝置和芯片檢測機”專利公布

來源:愛集微 #時創(chuàng)意電子# #時創(chuàng)意#
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天眼查顯示,深圳市時創(chuàng)意電子股份有限公司“上下料裝置和芯片檢測機”專利公布,申請公布日為2024年3月19日,申請公布號為CN117719879A。

本申請涉及芯片領域,具體公開了一種上下料裝置和芯片檢測機,所述上下料裝置包括殼體、支撐桿、多個吸附件和控制組件;所述殼體為內部中空結構,且一側具有第一開口,所述支撐桿和所述控制組件均安裝于所述殼體內,所述控制組件遠離所述第一開口的一側與所述支撐桿活動連接,所述控制組件靠近所述第一開口的一側分別與每個所述吸附件連接,所述吸附件用于吸附芯片;所述控制組件控制多個所述吸附件,沿所述支撐桿向所述第一開口的方向和所述支撐桿的長度的延伸方向往復移動。本申請通過以上方式,提高上下料效率,減輕操作負擔。 

責編: 愛集微
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