天眼查顯示，鹽城市昊芯科技有限公司“一種電源芯片質(zhì)量檢測設(shè)備”專利獲授權(quán)，授權(quán)公告日為6月9日，授權(quán)公告號為CN116047277B。

圖源：天眼查

專利摘要顯示，本發(fā)明屬于芯片檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體是指一種電源芯片質(zhì)量檢測設(shè)備，包括質(zhì)量測量主體、橫向震動測試機(jī)構(gòu)、反轉(zhuǎn)式溫差循環(huán)測試機(jī)構(gòu)和動態(tài)可調(diào)式壓力測試機(jī)構(gòu)，所述反轉(zhuǎn)式溫差循環(huán)測試機(jī)構(gòu)設(shè)于質(zhì)量測量主體內(nèi)，所述動態(tài)可調(diào)式壓力測試機(jī)構(gòu)設(shè)于反轉(zhuǎn)式溫差循環(huán)測試機(jī)構(gòu)上，所述橫向震動測試機(jī)構(gòu)設(shè)于反轉(zhuǎn)式溫差循環(huán)測試機(jī)構(gòu)上。

專利摘要稱，本發(fā)明提供了一種方便、高效、多維度調(diào)節(jié)的電源芯片質(zhì)量檢測設(shè)備，通過溫差切換控制組件，利用高溫和低溫循環(huán)測試，以檢測芯片在不同溫度下的性能和可靠性，可以模擬芯片在實(shí)際使用中的不同溫度環(huán)境下的表現(xiàn)；通過抗沖擊顛簸測試組件，檢測測試芯片在顛簸環(huán)境下的性能和可靠性。（校對/姜羽桐）