天眼查顯示，合肥康芯威存儲(chǔ)技術(shù)有限公司“一種存儲(chǔ)裝置的測(cè)試系統(tǒng)及其測(cè)試方法”專利公布，申請(qǐng)公布日為2025年2月28日，申請(qǐng)公布號(hào)為CN119541608A。

本發(fā)明提供一種存儲(chǔ)裝置的測(cè)試系統(tǒng)及其測(cè)試方法，涉及存儲(chǔ)技術(shù)領(lǐng)域，包括：測(cè)試板，用以與待測(cè)存儲(chǔ)器通信連接，以配置對(duì)應(yīng)的測(cè)試參數(shù)；以及處理器，用以與所述測(cè)試板通信連接，且被配置為：在將消息數(shù)據(jù)寫入至所述待測(cè)存儲(chǔ)器前，使其生成發(fā)生不同讀寫校驗(yàn)錯(cuò)誤的多個(gè)待測(cè)信息值，且在將各所述待測(cè)信息值依次寫入至所述待測(cè)存儲(chǔ)器中的重放保護(hù)內(nèi)存塊，以進(jìn)行將各所述待測(cè)信息值至所述待測(cè)存儲(chǔ)器的讀寫測(cè)試，得到測(cè)試結(jié)果。本發(fā)明提供的存儲(chǔ)裝置的測(cè)試系統(tǒng)及其測(cè)試方法，可以應(yīng)用于存儲(chǔ)器固件RPMB處理流程開發(fā)階段，系統(tǒng)與固件對(duì)測(cè)穩(wěn)定性及兼容性，具有簡(jiǎn)單易操作，RPMB類型配置豐富，測(cè)試覆蓋度高等優(yōu)點(diǎn)。