天眼查顯示，紫光同芯微電子有限公司“一種芯片檢測電路以及芯片檢測方法”專利公布，申請公布日為2024年8月27日，申請公布號為CN119125840A。

本發(fā)明實(shí)施例公開了一種芯片檢測電路以及芯片檢測方法。芯片檢測電路包括：ATE、單總線協(xié)議轉(zhuǎn)換處理器及待檢測芯片；其中，ATE與單總線協(xié)議轉(zhuǎn)換處理器連接，單總線協(xié)議轉(zhuǎn)換處理器與待檢測芯片連接；在對待檢測芯片進(jìn)行第一檢測時(shí)，單總線協(xié)議轉(zhuǎn)換處理器將ATE與待檢測芯片之間的傳輸數(shù)據(jù)進(jìn)行單總線協(xié)議轉(zhuǎn)換，通過單總線協(xié)議轉(zhuǎn)換處理器進(jìn)行協(xié)議轉(zhuǎn)換，可以保證ATE與待檢測芯片的可靠時(shí)鐘通訊，從而可提高芯片檢測準(zhǔn)確性；通過單總線協(xié)議轉(zhuǎn)換處理器的引入，可使ATE通過各IO通道對多個待檢測芯片進(jìn)行并行檢測，提高芯片檢測效率。