天眼查顯示，無錫力芯微電子股份有限公司近日取得一項名為“基于FPGA的串入并出邏輯電路高速測試裝置”的專利，授權(quán)公告號為CN220913289U，授權(quán)公告日為2024年5月7日，申請日為2023年8月31日。

本實用新型涉及邏輯電路測試技術(shù)領(lǐng)域，具體說是基于FPGA的串入并出邏輯電路高速測試裝置。它的特點是包括電源模塊、MCU模塊、FPGA單元和高速比較器陣列。電源模塊與MCU模塊、FPGA單元和高速比較器陣列適配連接。MCU模塊與FPGA單元適配連接，F(xiàn)PGA單元與高速比較器陣列適配連接，高速比較器陣列與FPGA單元適配連接。MCU模塊用于向FPGA單元發(fā)送串行測試信號、從FPGA單元中讀取測試數(shù)據(jù)，并將測試數(shù)據(jù)傳遞給分選機(jī)。該測試裝置可自動化測試，測試成本低，測試產(chǎn)能高。