天眼查顯示，無(wú)錫盛景微電子股份有限公司“基于污染源擴(kuò)散理論的低可靠性芯片識(shí)別方法及裝置”專利公布，申請(qǐng)公布日為2024年10月11日，申請(qǐng)公布號(hào)為CN118761427A。

本發(fā)明提供了基于污染源擴(kuò)散理論的低可靠性芯片識(shí)別方法及裝置。其中，包括：獲取待識(shí)別芯片以及污染芯片；根據(jù)待識(shí)別芯片與污染芯片的位置信息以及預(yù)設(shè)污染范圍，從模型數(shù)據(jù)庫(kù)中查找污染芯片對(duì)應(yīng)的權(quán)重系數(shù)和污染系數(shù)；模型數(shù)據(jù)庫(kù)包括：第一數(shù)據(jù)庫(kù)和第二數(shù)據(jù)庫(kù)，第一數(shù)據(jù)庫(kù)用于存儲(chǔ)相關(guān)位置信息，第二數(shù)據(jù)庫(kù)用于存儲(chǔ)相關(guān)權(quán)重系數(shù)和相關(guān)污染系數(shù)；利用權(quán)重系數(shù)和污染系數(shù)計(jì)算污染程度值；將污染程度值代入轉(zhuǎn)換函數(shù)，獲取待識(shí)別芯片的早期失效概率；基于預(yù)設(shè)篩選閾值和早期失效概率對(duì)待識(shí)別芯片進(jìn)行可靠性判斷，獲取識(shí)別結(jié)果；第二數(shù)據(jù)庫(kù)和轉(zhuǎn)換函數(shù)均基于優(yōu)化遺傳算法優(yōu)化訓(xùn)練得到。提高了低可靠性芯片識(shí)別的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性，降低了良品損失。