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《Applied Physics Letters》發(fā)表西電大馬曉華教授研究組科研成果

來源:寬禁帶半導(dǎo)體教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室 #西安電子科技大學(xué)# #氧化鎵#
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氧化鎵(Ga2O3)作為超寬禁帶半導(dǎo)體材料的代表,其具有超寬的禁帶寬度(4.9 eV)和超高的臨界擊穿場(chǎng)強(qiáng)(8 MV/cm),被認(rèn)為是制備下一代大功率、高效率及低功耗電力電子系統(tǒng)極具希望的半導(dǎo)體材料。此外,經(jīng)研究發(fā)現(xiàn)β-Ga2O3還表現(xiàn)出高達(dá)2×107 cm/s的電子飽和速度,其約翰遜優(yōu)值(2844)較SiC和GaN更高。因此,它在射頻器件領(lǐng)域具有重要的應(yīng)用潛力,探索研究氧化鎵基射頻功率器件具有重要意義。

然而,在實(shí)際射頻應(yīng)用中,需要考慮控制電路和功耗問題。因此,迫切需要增強(qiáng)型器件來簡(jiǎn)化射頻拓?fù)潆娐?,降低靜態(tài)功耗。由于器件設(shè)計(jì)與工藝方面的不足,目前國際上報(bào)道的氧化鎵基增強(qiáng)型MOSFET的性能仍然很差。這些增強(qiáng)型器件在射頻性能方面仍存在諸多不足,最主要的限制因素為器件工藝對(duì)溝道電子濃度和溝道遷移率的負(fù)面影響。所以,改進(jìn)器件設(shè)計(jì)和制備工藝,有效提升溝道遷移率對(duì)增強(qiáng)型Ga2O3基射頻 MOSFET非常重要。

西安電子科技大學(xué)馬曉華教授研究組創(chuàng)新性地提出了一種準(zhǔn)二維高遷移率溝道增強(qiáng)型β-Ga2O3 MOSFET結(jié)構(gòu)。并引入低損傷刻蝕技術(shù)形成凹槽柵結(jié)構(gòu),將重?fù)诫s溝道厚度縮小至幾個(gè)納米,減小了垂直方向上的電子散射,有效提高了溝道遷移率。同時(shí)使用重?fù)诫s材料作為溝道層,使得器件具有較小的導(dǎo)通電阻和較低的歐姆接觸電阻,從而展現(xiàn)出優(yōu)異的射頻性能。該研究成果以“Quasi 2D high mobility channel E-mode β-Ga2O3 MOSFET with Johnson FOM of 7.56 THz·V”為題,發(fā)表在國際知名期刊《Applied Physics Letters》上。2021級(jí)博士研究生王羲琛為本文第一作者,馬曉華教授、陸小力教授、何云龍副教授為論文共同通訊作者。

圖1 器件結(jié)構(gòu)示意圖及掃描電鏡圖像

研究表明,器件的制備過程包括在柵下區(qū)域進(jìn)行低損傷刻蝕,刻蝕深度為295 nm。研究組采用分步刻蝕的方法,利用O2等離子體對(duì)器件的刻蝕損傷進(jìn)行修復(fù),氧等離子體在電離過程中產(chǎn)生大量的氧離子,而Ga2O3材料中存在的氧空位可以通過這些氧離子得到補(bǔ)充。AFM圖像顯示刻蝕前后材料表面粗糙度變化量小于0.15 nm,表明了刻蝕過程中引入了較低的損傷,降低了電離雜質(zhì)散射的影響,從而保證了器件具有較高的遷移率。

圖2 器件輸出特性、轉(zhuǎn)移特性、熱穩(wěn)定性及擊穿特性

通過CV曲線計(jì)算得到器件場(chǎng)遷移率為147.5 cm2/(V·s),優(yōu)異的器件遷移率使其具有良好的射頻特性,器件峰值跨導(dǎo)高達(dá)54.2 m S/mm。優(yōu)異的遷移率是跨導(dǎo)較高的原因之一,這也與器件的轉(zhuǎn)移特性相吻合。

圖3 器件CV曲線及器件遷移率隨載流子濃度變化規(guī)律

此外,從仿真結(jié)果中也顯示出不同溝道厚度器件的遷移率和射頻特性。溝道厚度較小的器件性能較好,與實(shí)驗(yàn)結(jié)果一致,為實(shí)驗(yàn)提供了理論支持。尤其當(dāng)柵下區(qū)域的溝道厚度減小到納米量級(jí)時(shí),垂直方向上的電子散射在一定程度上可以忽略,從而實(shí)現(xiàn)了類似于2DEG的準(zhǔn)二維溝道,有效提高了器件的溝道遷移率,改善了器件的射頻特性。

圖4 遷移率仿真結(jié)果、器件小信號(hào)特性、去嵌結(jié)構(gòu)及約翰遜優(yōu)值圖

在器件的小信號(hào)特性方面,器件的fT和fMAX分別為18 GHz和42 GHz。約翰遜優(yōu)值 fT×VBK為7.56 THz·V,達(dá)到了國際已知的氧化鎵增強(qiáng)型MOSFET器件的最高值。這一結(jié)果為β-Ga2O3 基MOSFET在未來射頻功率電子器件中的應(yīng)用奠定了基礎(chǔ)。

該研究得到國家寬禁帶半導(dǎo)體器件及集成技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室開放項(xiàng)目、中央高?;A(chǔ)研究經(jīng)費(fèi)、輻射應(yīng)用國家創(chuàng)新中心的資助。

責(zé)編: 愛集微
來源:寬禁帶半導(dǎo)體教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室 #西安電子科技大學(xué)# #氧化鎵#
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